|
Рентгенография кристаллов
[X-ray diffractometry] – метод эксперимент. исследования в-ва на атомном уровне и диагностики его фазового состояния, использующий явление дифракции рентгеновского излучения на к-лах. Рентгенографируют моно- и поликристаллы с регистрацией на фотопленку (дебаеграмма) и с помощью счетчиков квантов (см. Рентгеновский дифрактометр). С середины XX в. активно развивается Р. к. при разл. давлении (барорентгенография) и особенно – температуре (терморентгенография). Последняя применяется (Филатов С.К., 1990) для изучения низкосимметричных породообразующих м-лов (полевые шпаты, пироксены, амфиболы, слоистые силикаты и т. п.); измерения теплового расширения к-ла, в т. ч. его анизотропии, для определения гл. значений тензора термич. деформаций и температур. коэф. объемного расширения в-ва, а также для исследования к-лов в контакте с жидкостью как метод изучения in situ разнообразных термич. переходов (см. Термокристаллохимия).
|
